Глибока нанометрія: технологія на базі штучного інтелекту забезпечує швидке виявлення рідкісних наночастинок

Дослідники з Токійського університету представили Deep Nanometry (DNM), новий аналітичний метод, який має революціонізувати виявлення наночастинок. Цей інноваційний підхід поєднує в собі передове оптичне обладнання з алгоритмом глибокого навчання без учителя для зниження шуму, що дозволяє проводити високошвидкісний аналіз медичних зразків. DNM може виявляти частинки розміром до 30 нанометрів зі швидкістю понад 100 000 частинок на секунду.

Підвищена чутливість DNM дозволяє точно виявляти слідові кількості рідкісних частинок, таких як позаклітинні везикули (EV), які мають вирішальне значення для раннього виявлення захворювань і доставки ліків. Технологія продемонструвала свій потенціал у виявленні ранніх ознак раку товстої кишки, долаючи обмеження традиційних методів, які вимагають трудомістких процесів попереднього збагачення.

Юічіро Івамото, науковий співробітник Дослідницького центру передових наук і технологій, підкреслив здатність DNM надійно виявляти рідкісні частинки за короткий проміжок часу. Компонент штучного інтелекту відфільтровує фоновий шум, що аналогічно заспокоєнню бурхливого океану для виявлення невеликого човна. Цей прогрес є багатообіцяючим для різних клінічних діагнозів, розробки вакцин, моніторингу навколишнього середовища і навіть шумозаглушення сигналів в електричних системах. Івамото присвятив цю роботу своїй покійній матері, сподіваючись зробити рятівну діагностику швидшою та доступнішою.